2020-12-21 17:18
高加速寿命试验(HALT)是一种对产品采用快速高、低温变换的震荡体系来呈现出产品设计的缺陷和不足的试验。高加速寿命试验(HALT)的目的是在产品研发的初期阶段测试出产品的损坏极限，由此来改良产品来提高其可靠性。
高加速寿命试验(HALT)的具体测试内容包括以下几点：1. 逐步施加应力直到产品失效或出现故障;2. 采取临时措施，修正产品的失效或故障;3. 继续逐步施加应力直到产品再次失效或出现故障，并再次加以修正;4. 重复以上试验→失效→改进的步骤;5. 找出产品的基本操作界限和基本破坏界限。
二、高加速寿命试验(HALT)的主要优点：
a.消除设计缺陷，提高设计可靠性，确保能获得早期高可靠性，使设备具有高的外场可靠性;b.减少鉴定试验时的故障，经过高加速寿命试验的产品，鉴定试验已不重要，仅是一种形式而已;c.降低寿命周期费用;d.能确切了解工作极限和损坏极限，为制定HASS方案，确定应力量级提供依据。
高加速寿命试验(HALT)须由一个团队参与。为保证试验的顺利进行，并得到精准的试验结果，此团队应由不同专业的技术人员组成，即涉及到与产品研发设计、制造工艺和质控等专业技术人员。
高加速寿命试验(HALT)在国内外电子行业领域已获得广泛关注和了解。因其具备传统的环境试验技术无法媲美的作用，现如今被国外许多知名企业采用。该试验可以直接体现出来的关键点，有以下几个方面：1.快速暴露产品的潜在缺陷;2.通过试验→改进→验证这一循环方式，有效增加产品的的极限值;3.产品的可靠性获得显著提升;4.大大缩短产品研发、设计、生产和上市的周期;5.长远来看，减少产品成本。
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